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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis

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X射線熒光光譜儀(XRF)

設備型號:S8TIGER
針對各類儲能業(yè)務需求,TIES力圖發(fā)展成為布局全面,面向市場,集測試分析、失效分析、資質認證、技術開發(fā)、工程放大、智能制造、高價值信息服務、高端培訓為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術參數(shù)

4 kW 高壓發(fā)生器,最高電流170 mA,最大電壓60 kV

陶瓷 Rh 靶端窗X 射線光管(75 μm 超薄Be 窗)10 位初級慮光片

樣品室和光譜室抽真空34 mm 的準直器面罩

準直器: 0.23° and 0.46° (4 位置的準直器轉換器)

分光晶體: LiF200, PET, XS-55 (8 位置的晶體轉換器)

編碼控制的測角儀,θ 和 2θ 單獨驅動

計數(shù)器: 閃爍計數(shù)器和配有超高穿透窗的流氣正比計數(shù)器 


應用范圍

(1)能對樣品中Be~Am之間的元素進行定性定量檢測,能對固體樣、液體樣、玻璃熔片樣、粉末壓片樣直接進行測定,能準確分析ppm~100%的濃度含量。擁有功能完備的分析軟件包,實現(xiàn)未知樣品的簡單快速分析。 

(2)礦物材料、金屬材料、水泥、石油、晶體、聚合物等材料中的各種成分的快速定性和定量分析、元素分布、面掃描等分析; 

(3)可以分析材料的領域包括:電池材料、陶瓷及水泥工業(yè)、地質礦產(chǎn)、環(huán)境保護等; 可用于研發(fā)和學術領域的研究。

  

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